美国国立卫生研究院(National Institutes of Health)研究人员的一项研究表明，母亲在怀孕期间的压力或抑郁发作与胎盘基因的化学修饰有关。这些修饰包括DNA甲基化，即甲基与DNA的结合，可以改变基因的活性。一些与母亲抑郁相关的甲基化变化发生在与大脑发育有关的基因附近，这表明母亲在怀孕期间的抑郁可能对孩子的智力发展有长期的影响。
这项研究是由美国国立卫生研究院尤尼斯·肯尼迪·施赖弗国家儿童健康和人类发展研究所的法西尔·泰科拉-阿耶勒博士及其同事进行的。它出现在表观基因组学中。
研究人员对参与先前研究的301名孕妇的胎盘样本进行了一项名为“表观基因组全关联研究”的遗传分析。研究参与者回答了关于他们在怀孕期间的压力和抑郁水平的问卷。研究人员发现，应激史与两个胎盘DNA位点的甲基化变化有关，抑郁史与16个胎盘DNA位点的变化有关。在与抑郁症相关的变化中，有两个与大脑发育相关的基因相近。
之前的研究发现，母亲在怀孕期间抑郁与孩子患抑郁症的风险较高之间存在关联。研究人员呼吁进行长期研究，以确定胎盘中与压力和抑郁相关的表观遗传变化是否可以用来预测儿童的心理健康结果。
